Jauge de planéité de plaque en céramique

L'instrument de mesure de la planéité des plaques en céramique de la série RF est spécialement développé pour la mesure de la planéité des plaques en céramique dans l'industrie des semi-conducteurs ; L'instrument de mesure peut mesurer la planéité de la céramique dans différentes directions, simuler la forme de la surface de la plaque céramique grâce à son propre logiciel d'analyse de données et peut être utilisé comme un outil efficace pour le contrôle qualité des plaques céramiques chez les fabricants de semi-conducteurs.

L'instrument de mesure de planéité des plaques en céramique de la série RF a une résolution de mesure de {{0}},1 um et une précision de mesure < 0,5 um/1 000 mm ; pendant le processus de mesure, les données sont transmises en temps réel et stockées dans le ordinateur.

Une fois les données collectées par l'instrument de mesure traitées par un programme spécial, la valeur de planéité dans une direction spécifique de la plaque céramique peut être générée. Dans le même temps, la morphologie dans cette direction peut également se traduire par une courbe

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